Bauelemente
von: Klaus Beuth
Vogel Communications Group GmbH & Co. KG, 2010
ISBN: 9783834361127
Sprache: Deutsch
387 Seiten, Download: 4941 KB
Format: PDF, auch als Online-Lesen
| Titel | 3 | ||
| Impressum, Copyright | 4 | ||
| Vorwort | 5 | ||
| Inhaltsverzeichnis | 7 | ||
| 1 Einführung in die Oszillographenmesstechnik | 15 | ||
| 1.1 Allgemeines | 15 | ||
| 1.2 Aufbau und Arbeitsweise eines Oszilloskops | 16 | ||
| 1.3 Bedienung eines Oszilloskops | 21 | ||
| 1.4 Lernziel-Test | 22 | ||
| 2 Lineare und nichtlineare Widerstände | 23 | ||
| 2.1 Allgemeine Eigenschaften | 23 | ||
| 2.2 Festwiderstände | 25 | ||
| 2.3 Einstellbare Widerstände | 32 | ||
| 2.4 Temperaturabhängigkeit von Widerständen | 36 | ||
| 2.5 Heißleiterwiderstände und Kaltleiterwiderstände | 37 | ||
| 2.6 Spannungsabhängige Widerstände | 41 | ||
| 2.7 Lernziel-Test | 45 | ||
| 3 Kondensatoren und Spulen | 47 | ||
| 3.1 Kapazität | 47 | ||
| 3.2 Kondensatoren | 49 | ||
| 3.3 Kondensator im Gleichstromkreis | 58 | ||
| 3.4 Kondensator im Wechselstromkreis | 60 | ||
| 3.5 Reihen- und Parallelschaltung von Kondensatoren | 63 | ||
| 3.6 Spulen | 65 | ||
| 3.7 Spule im Gleichstromkreis | 68 | ||
| 3.8 Spule im Wechselstromkreis | 71 | ||
| 3.9 Reihen- und Parallelschaltung von Spulen | 75 | ||
| 3.10 Lernziel-Test | 77 | ||
| 4 Frequenzabhängige Zwei- und Vierpole | 79 | ||
| 4.1 Allgemeines | 79 | ||
| 4.2 Reihenschaltung von R und C | 79 | ||
| 4.3 Reihenschaltung von R und L | 80 | ||
| 4.4 RC-Glied | 81 | ||
| 4.5 CR-Glied | 83 | ||
| 4.6 RL-Glied | 85 | ||
| 4.7 LR-Glied | 86 | ||
| 4.8 Schwingkreise | 87 | ||
| 4.9 RC-Glied als Integrierglied | 97 | ||
| 4.10 CR-Glied als Differenzierglied | 99 | ||
| 4.11 Lernziel-Test | 101 | ||
| 5 Halbleiterdioden | 103 | ||
| 5.1 Halbleiterwerkstoffe | 103 | ||
| 5.2 Aufbau eines Halbleiterkristalls | 104 | ||
| 5.3 Eigenleitfähigkeit | 105 | ||
| 5.4 n-Silizium | 106 | ||
| 5.5 p-Silizium | 107 | ||
| 5.6 pn-Übergang | 109 | ||
| 5.7 Arbeitsweise von Halbleiterdioden | 115 | ||
| 5.8 Schaltverhalten von Halbleiterdioden | 121 | ||
| 5.9 Temperaturverhalten von Halbleiterdioden | 122 | ||
| 5.10 Halbleiterdioden als Gleichrichter | 123 | ||
| 5.11 Halbleiterdioden als Schalter | 128 | ||
| 5.12 Bauarten von Halbleiterdioden | 129 | ||
| 5.13 Prüfen von Halbleiterdioden | 132 | ||
| 5.14 Kennwerte und Grenzwerte | 133 | ||
| 5.15 Lernziel-Test | 135 | ||
| 6 Halbleiterdioden mit speziellen Eigenschaften | 137 | ||
| 6.1 Z-Dioden | 137 | ||
| 6.2 Kapazitätsdioden | 145 | ||
| 6.3 Tunneldioden (Esakidioden) | 149 | ||
| 6.4 Backwarddioden | 152 | ||
| 6.5 PIN-Dioden | 153 | ||
| 6.6 Schottky-Dioden (Hot-Carrier-Dioden) | 156 | ||
| 6.7 Lernziel-Test | 157 | ||
| 7 Bipolare Transistoren | 159 | ||
| 7.1 Allgemeines | 159 | ||
| 7.2 Arbeitsweise von pnp-Transistoren | 159 | ||
| 7.3 Arbeitsweise von npn-Transistoren | 163 | ||
| 7.4 Spannungen und Ströme beim Transistor | 165 | ||
| 7.5 Kennlinienfelder und Kennwerte (Emittergrundschaltung) | 167 | ||
| 7.6 Wahl des Transistorarbeitspunktes | 173 | ||
| 7.7 Steuerung des Transistors | 176 | ||
| 7.8 Restströme, Sperrspannungen und Durchbruchspannungen | 180 | ||
| 7.9 Übersteuerungszustand und Sättigungsspannungen | 183 | ||
| 7.10 Transistorverlustleistung | 184 | ||
| 7.11 Temperatureinfluss und Arbeitspunktstabilisierung | 187 | ||
| 7.12 Transistor-Rauschen | 189 | ||
| 7.13 Transistordaten | 192 | ||
| 7.14 Anwendungen | 196 | ||
| 7.15 Lernziel-Test | 201 | ||
| 8 Unipolare Transistoren | 203 | ||
| 8.1 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren (JFET) | 203 | ||
| 8.2 MOS-Feldeffekttransistoren (IG-FET) | 212 | ||
| 8.3 Dual-Gate-MOS-FET | 225 | ||
| 8.4 Unijunktiontransistoren (UJT) | 226 | ||
| 8.5 Lernziel-Test | 229 | ||
| 9 Integrierte Schaltungen | 231 | ||
| 9.1 Allgemeines | 231 | ||
| 9.2 Integrationstechniken | 232 | ||
| 9.3 Analoge und digitale integrierte Schaltungen | 237 | ||
| 9.4 Integrationsgrad und Packungsdichte | 239 | ||
| 9.5 Vor- und Nachteile integrierter Schaltungen | 239 | ||
| 9.6 Nanotechnik | 240 | ||
| 9.7 Operationsverstärker | 242 | ||
| 9.8 Lernziel-Test | 248 | ||
| 10 Thyristoren | 249 | ||
| 10.1 Vierschichtdioden (Thyristordioden) | 249 | ||
| 10.2 Thyristoren (rückwärtssperrende Thyristortrioden) | 253 | ||
| 10.3 Thyristortetroden | 266 | ||
| 10.4 GTO-Thyristoren | 268 | ||
| 10.5 Lernziel-Test | 272 | ||
| 11 Diac und Triac | 273 | ||
| 11.1 Diac | 273 | ||
| 11.2 Triac | 276 | ||
| 11.3 Steuerungen mit Diac und Triac | 281 | ||
| 11.4 Lernziel-Test | 284 | ||
| 12 Fotohalbleiter | 285 | ||
| 12.1 Innerer fotoelektrischer Effekt | 285 | ||
| 12.2 Fotowiderstände | 286 | ||
| 12.3 Fotoelemente und Solarzellen | 288 | ||
| 12.4 Fotodioden | 295 | ||
| 12.5 Fototransistoren | 297 | ||
| 12.6 Fotothyristoren, Fotothyristortetroden | 299 | ||
| 12.7 Leuchtdioden (LED) | 301 | ||
| 12.8 Halbleiterlaser | 311 | ||
| 12.9 Lichtwellenleiter | 313 | ||
| 12.10 Opto-Koppler | 316 | ||
| 12.11 Lernziel-Test | 318 | ||
| 13 Halbleiterbauelemente mit speziellen Eigenschaften | 319 | ||
| 13.1 Hallgeneratoren | 319 | ||
| 13.2 Feldplatten | 323 | ||
| 13.3 Magnetdioden | 325 | ||
| 13.4 Druckabhängige Halbleiterbauelemente | 327 | ||
| 13.5 Flüssigkristall-Bauteile | 328 | ||
| 13.6 Thin-Film-Transistor(TFT)-LCD-Bildschirme | 332 | ||
| 13.7 Plasma-Displays (PDP = Plasma Display Panel) | 335 | ||
| 13.8 Lernziel-Test | 336 | ||
| 14 Elektronen- und Ionenröhren | 337 | ||
| 14.1 Thermoemission | 337 | ||
| 14.2 Röhrendiode (Zweipolröhre, Vakuumdiode) | 337 | ||
| 14.3 Triode (Dreipolröhre) | 339 | ||
| 14.4 Tetrode (Vierpolröhre) | 344 | ||
| 14.5 Pentode (Fünfpolröhre) | 344 | ||
| 14.6 Elektronenstrahlröhren | 348 | ||
| 14.7 Ionenröhren | 352 | ||
| 14.8 Fotozellen | 356 | ||
| 14.9 Lernziel-Test | 359 | ||
| 15 Lösungen der Lernziel-Tests | 360 | ||
| Anhang | 369 | ||
| Glossar | 378 | ||
| Stichwortverzeichnis | 379 |